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蘇州貝視電子科技有限公司成立于2017年11月, 為貝視集團(tuán)(香港)有限公司全資子公司。成立伊始,公司致力于半導(dǎo)體和表面貼裝電子行業(yè)檢測(cè)設(shè)備的銷(xiāo)售和服務(wù);貝視電子以先進(jìn)的技術(shù)為先導(dǎo),優(yōu)秀的服務(wù) 為基礎(chǔ),為客戶(hù)提供完善的電子裝配生產(chǎn)和檢測(cè)解決方案。
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金相顯微鏡 ZEISS的Axio Imager Vario 專(zhuān)為研究、開(kāi)發(fā)及質(zhì)量控制領(lǐng)域中的樣品檢測(cè)而設(shè)計(jì) – 從最小的 M..
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白光共聚焦顯微鏡 設(shè)備類(lèi)型: 快速轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦顯微鏡 產(chǎn)品定位: 專(zhuān)業(yè)三維形貌..
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智能型數(shù)碼顯微鏡 Zeiss Smartzoom??5??是一款智能型數(shù)碼顯微鏡適用于工業(yè)領(lǐng)域的質(zhì)量保證應(yīng)用。設(shè)置快速簡(jiǎn)便、全自動(dòng)化且配..
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掃描電鏡 Zeiss EVO MA10 樣品室采用整塊材質(zhì)中間掏空制成,從而在同類(lèi)產(chǎn)品中具有最好的束流穩(wěn)定性,受外界環(huán)境的干擾更小..
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聚焦離子束電鏡 Zeiss Crossbeam 系統(tǒng)將 GEMINI 鏡筒的成像和分析性能與用于納米級(jí)材料加工和樣品制備的新一代聚焦離..
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X射線(xiàn)檢測(cè)機(jī) Nordson DAGE 作為X射線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)的市場(chǎng)先行者和最大市場(chǎng)份額的擁有者,為滿(mǎn)足客戶(hù)的各種需..
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推拉力測(cè)試機(jī) Nordson Dage的邦定測(cè)試機(jī)(Bondtester)開(kāi)發(fā)于60年代初,擁有最先進(jìn)最測(cè)試技術(shù),全球市場(chǎng)份額高達(dá)85%以上。DA..
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自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī) Nordson Yestech M1m自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)配置300萬(wàn)像素的相機(jī)和遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng),且占地面積小于1..
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高速自動(dòng)在線(xiàn)X-ray檢查系統(tǒng) Nordson Matrix AXI是為高速自動(dòng)化表面貼裝生產(chǎn)線(xiàn)設(shè)計(jì)的先進(jìn)的X光在線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)。X射線(xiàn)透射結(jié)合..
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精密涂膠和涂覆系統(tǒng) Nordson ASYMTEK是點(diǎn)膠設(shè)備和表面涂覆設(shè)備的供應(yīng)商,同時(shí)擁有全球服務(wù)網(wǎng)絡(luò)提供技術(shù)支持。除了眾所周知的創(chuàng)新的點(diǎn)膠機(jī)和涂覆系統(tǒng)..
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X射線(xiàn)熒光光譜儀 FISCHERSCOPE? HM2000 硬度儀配有HT2000測(cè)量頭,用于測(cè)量塊狀樣品及1μm以上涂層硬度的自動(dòng)化納米..
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2D/3D晶圓檢測(cè)機(jī) Camtek公司開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)最先進(jìn)的檢測(cè)和計(jì)量系統(tǒng),提供無(wú)與倫比的解決方案支持半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)從研發(fā)到批量生產(chǎn)的環(huán)境,在同一平臺(tái)..
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錫膏測(cè)厚儀 Sinic-Tek公司的錫膏測(cè)厚儀 具有可編程結(jié)構(gòu)光柵技術(shù)(PSLM ;相位調(diào)制輪廓測(cè)量技術(shù)(PM..
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濕法清洗設(shè)備 ACM主要開(kāi)展半導(dǎo)體設(shè)備研究、開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)、制造、銷(xiāo)售以及售后服務(wù)等業(yè)務(wù),專(zhuān)注于濕法工藝設(shè)備,包括:無(wú)應(yīng)力拋光設(shè)備,電化..
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非接觸式顯微鏡 日本Union DH2高精度非接觸深度測(cè)量顯微鏡 采用光學(xué)和非接觸方法探測(cè)焦距的方法,測(cè)量不會(huì)給樣品造成變形或劃痕等影響,這些往往..

蘇州貝視電子失效與可靠性實(shí)驗(yàn)室,為半導(dǎo)體行業(yè)提供多達(dá)28項(xiàng)的實(shí)驗(yàn)服務(wù)。 涵蓋Bonding and Package Anolysis; Failure Machanism; IC Design,Layout Generation; Reliability Test等領(lǐng)域。
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